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產品介紹
CW400T-8″硅芯片工業檢查顯微鏡
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產品名稱：CW400T-8″硅芯片工業檢查顯微鏡
產品型號：CW400T-8″
儀器用途：

CW400T-8″廣泛的應用于透明，半透明或不透明物質的觀測。本儀器配有大移動范圍的載物臺，落射照明器、平場金相物鏡，大視野目鏡，圖像清晰、襯度好，同時配有偏光裝置，是專門為檢測晶圓而設計制造的，同樣它也可以用于金屬學、礦物學、精密工程學、電子學等研究的理想儀器，適用于學校、科研、工廠等部門使用。

性能特點:
配置大視野目鏡和長距平場消色差物鏡(無蓋玻片)，視場大而清晰。
配置大移動范圍的載物臺，能快速和慢速移動。
粗微動同軸調焦機構，粗動松緊可調，帶鎖緊和限位裝置，微動格值:2μm。
6V 20W鹵素燈,亮度可調。
三目鏡筒,可自由切換正常觀察與偏光觀察，可進行100%透光攝影。

主要技術參數：
  • 鏡筒：鉸鏈式雙目頭部，傾斜30°，主機含三目攝像接筒裝置（T）
  • 大視野目鏡：WF10Xф18mm，單視度可調
  • 長工作距離平場金相物鏡：
  • PL5X，PLL10X，PLL20X，PLL50X（S），PLL80X（S）
  • 光學總放大倍數（標配）：50X-800X
  • 轉換器：五孔（滾珠內定位）
  • 載物臺：雙層機械移動，尺寸280mm×270mm，
  • 移動范圍204mm×204mm
  • 調 焦：粗微動同軸，升降范圍25mm，微動格值0.0008mm，
  • 帶鎖松緊和限位裝置
  • 光 源：落射科勒照明鹵素燈6V20W，亮度可調
  • 正交偏光裝置
  • 防 霉
選購件：
300萬像素彩色數字攝像系統、測量軟件、計算機

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