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產品介紹
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儀器用途
LW200-4JT適用于廠礦企業、高等院校及科研機構作金相、巖相、礦相等材料表面組織結構的薄片觀察檢測。也可用于電子工業部門作晶體，金屬陶瓷、印刷電路、LCD基板、薄膜、纖維、顆粒狀物體、鍍層等材料表面的結構、芯片及新材料等方面的檢驗與分析。
采用進口光學鏡片，獨有的100X干鏡可媲美國外同類產品,為國內市場配置高端的產品.
主要技術參數：
1．三目鏡筒： 傾斜45 °可旋轉360 °
瞳距55mm-75mm，視度±5°
輔助倍數1.25X
2．高眼點目鏡：PLAN10X/20mm
3．平場物鏡: 4X、10X、40X（S）、100X(S，oil)
4．總放大倍數：50X-1250X
5．雙層載物臺：尺寸160mm*140mm，
移動范圍 75*50mm
6．聚焦鏡：可調式阿貝聚焦鏡NA1.25
孔鏡可變光欄和視場光闌 濾色片座
7．調 焦 ：同軸粗微動調焦 升降范圍25mm
微動格值0.002mm
8. 光 源：柯勒照明，正交偏振裝置，濾色片（綠、黃、磨砂），反射光可調鹵素燈12V50W，
透射光可調鹵素燈12V20W
選購件:
1、目鏡 WF16X/11mm、WF20X/9mm,10可調帶尺目鏡
2、物鏡：PL5X、PLL20X、PLL50X、PLL60X、PLL80X、 PLL100X(干鏡) 3、攝像系統：數字彩色攝像頭,數碼相機 4、金相分析軟件，測量軟件等
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